製品案内｜Products
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- S1 シリーズ
- マイクロアナリシス
- QUANTAX EDS
- QUANTAX EBSD
熱分析・製品案内｜
Products
- 熱分析・熱物性測定装置
- DSC3000SA
- DSC 200 F3 Maia®
- DSC 204 F1 Phoenix®
- Photo-DSC 204 F1 Phoenix®
- DSC 404 F1/F3 Pegasus®
- 湿度TG2000SA
- TG-DTA2000SA
- STA 449 F1/F3 Jupiter®
- STA 409 CD
- TMA4000SA
- 湿度TMA4000SA
- DMA 242 C
- TD5000SA
- DIL 402 PC
- DIL 402 C/CD
- DIL 402 E
- DEA 230/231 Epsilon®
- LFA 447 NanoFlash®
- LFA 457 MicroFlash®
- LFA 427
- HFM 436 Lambda®
- GHP 456 Titan®
- TG-DTA/MS9610
- QMS 403 C Aëolos®
- QMS 403/5 SKIMMER
- FTIR Coupling
熱分析装置・熱物性測定装置
- Thermal Analysis : TA -
熱分析とは、物質（試料）の温度を一定のプログラムに従って変化させながら、その物質のある熱的性質（物理的性質および化学的性質）を温度または時間の関数として測定する技法の総称です。日本国内で実績のあるブルカー・エイエックスエス社製のみならず、世界的に定評のあるNETZSCH（ネッチ）社製熱分析装置・熱物性測定装置も取り扱っています。
製品ラインナップ
- 示差走査熱量計 【DSC】
- 熱重量測定装置 【TGA】
- 同時熱分析装置 【STA：TG-DSC/DTA】
- 熱機械分析装置 【TMA】
- 粘弾性測定装置 【DMA】
- 熱膨張計 【DIL】
- 誘電分析装置（ポリマー硬化自動測定装置） 【DEA】
- レーザーフラッシュ法熱物性測定装置 【LFA】
- 熱伝導率測定装置 【HFM/GHP】
- 分解発生ガス分析装置 【EGA】
示差走査熱量計 【DSC】
| 機種 | DSC3100SA | DSC3200SA | DSC3300SA |
|---|---|---|---|
| 測定温度範囲 | -150℃〜750℃ | -150℃〜750℃ | 室温〜1500℃ |
| 測定レンジ | ±0.1〜±100mW | ±0.02〜±100mW | ±1〜±100mW |
超高感度示差走査熱量計
DSC 204 F1 Phoenix®
| 機種 | DSC 204 F1 Phoenix® | |
|---|---|---|
| μ-Sensor | τ-Sensor | |
| 測定温度範囲 | -150℃〜400℃ | -180℃〜700℃ |
| 検出感度 | 0.1μW | 1μW |
| 時定数 | 3sec | 0.6sec |
フォトカロリーメーター（UV/VIS照射示差走査熱量計）
Photo-DSC 204 F1 Phoenix®
| 機種 | Photo-DSC 204 F1 Phoenix® |
|---|---|
| 測定温度範囲 | 電気冷却 ： -85℃〜200℃ |
| 液体窒素冷却 ： -100℃〜200℃ | |
| 波長範囲 | 315〜500nm |
高温示差走査熱量計
DSC 404 F1/F3 Pegasus®
| 機種 | DSC 404 F1 Pegasus® | DSC 404 F3 Pegasus® |
|---|---|---|
| 測定温度範囲 | -150℃〜1650℃ | |
| DSC検出感度 | 1μW （Type E-sensor，RMS 0.7μW） | |
| 時定数 | 15sec （センサータイプによる） | |
熱重量測定装置 【TGA】
| 機種 | 湿度TG2000SA | ||
|---|---|---|---|
| 測定温度範囲 | 5℃〜80℃ | ||
| 測定湿度範囲 | 5%〜90%RH max | ||
| 制御安定性 | ±0.5℃以内、±0.5%RH以内 | ||
| TGレンジ | ±0.1〜±200mg | ||
同時熱分析装置 【STA：TG-DSC/DTA】
示差熱・熱重量同時測定装置
TG-DTA2000SA シリーズ
| 機種 | TG-DTA2010SA | TG-DTA2020SA | TG-DTA2200SA |
|---|---|---|---|
| 測定温度範囲 | 室温〜1100℃ | 室温〜1550℃ | 室温〜1700℃ |
| TGレンジ | ±0.1〜±200mg | ||
| DTAレンジ | ±1.5〜±1000μV | ||
同時熱分析装置
STA 449 F1/F3 Jupiter®
| 機種 | STA 449 F1 Jupiter® | STA 449 F3 Jupiter® |
|---|---|---|
| 測定温度範囲 | -150℃〜2000℃ | |
| TG検出感度 | 0.025μg | 1μg |
| DSC検出感度 | 1μW （Type E-sensor，RMS 0.7μW） | |
| 時定数 | 15sec （センサータイプによる） | |
| 機種 | STA 409 CD |
|---|---|
| 測定温度範囲 | 室温〜2000℃ （TG-DTA） 室温〜1500℃ （TG-DSC） |
| TG分解能 | 5μg （最大重量 25g） |
| DSC検出感度 | ±2.5mW （type E sensor） |
熱機械分析装置 【TMA】
【 全膨張検出方式 】
【 示差検出方式 】
| 機種 | TMA4010SA | TMA4030SA | TMA4015SA |
|---|---|---|---|
| 測定温度範囲 | 室温〜1100℃ | -150℃〜600℃ | -50℃〜1100℃ |
| 変位測定範囲 | ±0.5μｍ〜±2500μｍ | ||
| 荷重範囲 | ±0.98mN〜±4.9N (0.98mN/ステップ) | ||
| 機種 | TMA4110SA | TMA4120SA | TMA4130SA | TMA4115SA | TMA4200SA |
|---|---|---|---|---|---|
| 測定温度範囲 | 室温〜1100℃ | 室温〜1500℃ | -150℃〜600℃ | -50℃〜1100℃ | 室温〜1700℃ |
| 変位測定範囲 | ±0.5μm〜±2500μm | ||||
| 荷重範囲 | ±0.98mN〜±4.9N (0.98mN/ステップ) | ||||
| 機種 | 湿度TMA4000SA |
|---|---|
| 測定温度範囲 | 5℃〜90℃ |
| 測定湿度範囲 | 5%〜90%RH max |
| 制御安定性 | ±0.5℃以内、±0.5%RH以内 |
| 変位測定範囲 | ±0.5μm〜±2500μm |
| 荷重範囲 | ±0.98〜±4.9mN (0.98mN/ステップ) |
粘弾性測定装置 【DMA】
熱膨張計 【DIL】
【 示差膨張方式 （標準試料サイズ型：φ□0.3〜6mm×0.2〜20mmL） 】
【 示差膨張方式 （大試料サイズ型：φ0.3〜40mm×45〜55mmL） 】
| 機種 | TD5010SA | TD5020SA | TD5030SA | TD5200SA |
|---|---|---|---|---|
| 測定温度範囲 | 室温〜1100℃ | 室温〜1550℃ | -150℃〜600℃ | 室温〜1700℃ |
| 変位測定範囲 | ±0.5μm〜±2500μm | |||
| 荷重範囲 | 0.98N max. (100g max 電磁荷重方式) | |||
| 機種 | TD5110SA | TD5120SA | TD5130SA |
|---|---|---|---|
| 測定温度範囲 | 室温〜1100℃ | 室温〜1550℃ | -150℃〜600℃ |
| 変位測定範囲 | ±0.5μm〜±2500μm | ||
| 荷重範囲 | 0.98N max. (100g max 電磁荷重方式) | ||
| 機種 | DIL 402 C | DIL 402 CD |
|---|---|---|
| 検出方式 | 全膨張方式 | 示差膨張方式 |
| 測定温度範囲 | -180℃〜2000℃ | |
| 測定範囲 | 500 / 5000μm | |
| 感度 | 0.125 / 1.25nm/digit | |
誘電分析装置（ポリマー硬化自動測定装置） 【DEA】
誘電分析装置（ポリマー硬化自動測定装置）
DEA 230/231 Epsilon®
| 機種 | DEA 230 Epsilon® | DEA 231 Epsilon® |
|---|---|---|
| チャンネル数 | 1 / 2 / 10チャンネル | 10チャンネル |
| 周波数レンジ | 0.1Hz〜100kHz (1ch) 0.001〜100kHz (2ch) 0.1〜100kHz (10ch) |
10Hz〜10kHz |
レーザーフラッシュ法熱物性測定装置 【LFA】
キセノンフラッシュアナライザー
LFA 447 NanoFlash®
| 機種 | LFA 447 Nanoflash® |
|---|---|
| 測定温度範囲 | 室温〜300℃ |
| パルス幅可変 | 0.1msec，0.2msec，0.4msec （ソフトウェアによる選択可能） |
| 熱拡散率測定範囲 | 0.01〜1000mm2/sec |
| 熱伝導率測定範囲 | 0.05〜2000W/m･K |
卓上型レーザーフラッシュアナライザー
LFA 457 MicroFlash®
| 機種 | LFA 457 MicroFlash® |
|---|---|
| 測定温度範囲 | -125〜500℃ （ヘリウム雰囲気推奨）、室温〜1100℃ |
| パルス幅 | 0.33msec |
| 熱拡散率測定範囲 | 0.01〜1000mm2/sec |
| 熱伝導率測定範囲 | 0.05〜2000W/m･K |
| 機種 | LFA 427 |
|---|---|
| 測定温度範囲 | -70℃〜2000℃ （4種類の加熱炉交換による） |
| パルス幅 | 0.2msec〜1.2msec， 0.1msecステップ可変 |
| 熱拡散率測定範囲 | 0.001〜1000mm2/s |
熱伝導率測定装置 【HFM/GHP】
定常法 熱伝導率測定装置
HFM 436 Lambda® シリーズ
| 機種 | HFM 436 Lambda® シリーズ |
|---|---|
| 測定温度範囲 | 10〜30℃、10〜90℃、-20〜80℃、-10〜60℃ |
| 熱伝導率測定範囲 | 0.005〜0.5W/(m･K) |
| 熱抵抗測定範囲 | 0.1〜8.0m2K/W |
分解発生ガス分析装置 【EGA】
QMS キャピラリーカップリングシステム
QMS 403 C Aëolos®
| 機種 | QMS 403 C Aëolos® |
|---|---|
| 測定温度範囲 | 室温〜1650℃ （TG-DSC/QMS） |
| QMSキャピラリー最大加熱温度 | 300℃ |
| 質量分析範囲 | 1〜300 |
SKIMMER カップリングシステム
QMS 403/5 SKIMMER
| 機種 | QMS 403/5 SKIMMER |
|---|---|
| 測定温度範囲 | 室温〜2000℃ （TG-DTA/QMS） 室温〜1500℃ （TG-DSC/QMS） |
| SKIMMERの到達温度 | 試料温度と等しい |
| 質量分析範囲 | 1〜300amu， 1〜512amu， 1〜1024amu |
| 機種 | FTIR カップリングシステム |
|---|---|
| 測定温度範囲 | 室温〜1650℃ （TG-DSC/FTIR） |
| FTIRトランスファーライン最大加熱温度 | 230℃ |
| FTIR波長測定範囲 | 7500〜370cm-1 |
| FTIR分解能 | 1cm-1 |
ブルカー・エイエックスエスヘのお問い合わせ
新製品情報｜New Products
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- 波長分散型蛍光X線分析装置
S8 TIGER/LION/DRAGON - ハンドヘルド蛍光X線分析装置
S1 シリーズ - 高感度卓上型エネルギー分散型蛍光X線分析装置
S2 RANGER - 新型多機能高分解能X線回折装置
New D8 DISCOVER - ターボスピードマッピング機能付微小部蛍光X線分析装置
M4 TORNADO - 新型完全自動多目的X線回折装置
New D8 ADVANCE - 高速検出器搭載可能 卓上型X線回折装置
D2 PHASER - 170mA(4kW)の大電流対応波長分散型X線分析装置
S8 TIGER - 高速カメラを用いた電子線後方散乱回折装置（EBSD）
QUANTAX CrystAlign - 最高123eV保証の第5世代シリコンドリフトEDSシステム
QUANTAX - 卓上型全自動単結晶X線構造解析装置
SMART X2S - NETZSCH社製 同時熱分析装置
STA 449 F1/F3 Jupiter® - NETZSCH社製 高温示差走査熱量計
DSC 404 F1/F3 Pegasus®
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