コンビナトリアルスクリーニング対応X線回折装置

D8 DISCOVER with GADDS CS

ハイスループットスクリーニング対応X線回折装置

D8 DISCOVER with GADDS HTS

D8 DISCOVER with GADDS CS
D8 DISCOVER with GADDS CS
ハイスループットスクリーニングに対応した
次世代X線回折システム

2次元PSPCに加え、試料水平型ゴニオメーター、XYZステージとレーザービデオ顕微鏡を組み合わせたことにより、試料の前処理を必要とせず試料調整が容易で、微量試料での迅速測定が可能となり、コンビナトリアル合成試料のスクリーニングに不可欠なハイスループット測定を実現しました。

製品特徴

2次元検出器 Hi-STAR

Hi-STAR
Hi-STAR

2次元PSPC Hi-STARによる、試料の結晶状態および集合組織(選択配向)の有無の直感的な把握と同時に、ハイスループットなコンビナトリアルスクリーニング測定が可能です。

試料セッティング

レーザービデオ顕微鏡
レーザービデオ顕微鏡

D8ゴニオメーターを試料水平型に設置し、レーザービデオ顕微鏡により迅速、容易かつ正確な試料セッティングが可能となりました。さらに自動XYZステージとの組み合わせで、自動アライメント(試料高さ調整)機能にも対応しています。

自動測定・自動解析

PolySNAP
PolySNAP

ソフトウェアはハイスループット測定に完全対応しており、試料ライブラリーのユーザー定義による Pass/Fail をはじめ、回折強度、ピーク位置、半価幅の2次元、3次元マッピングが可能です。さらに全自動パターンマッチングソフトウェア PolySNAP はXRDパターンの類似性評価による定性・定量分析が可能です。

多彩なオプション

GADDS CS with Centric Eulerian Cradle
CS with Centric Cradle

ドーム型試料高温ステージ DHS900 等との組み合わせで、温度変化による結晶相変化の観察や in-situ(時分割)測定などが可能。またキャピラリー試料ステージとの組み合わせで透過法での平均化測定にも対応します。さらに試料ステージをセントリックユーレリアンクレードルとすることで極点図形や残留応力測定などへの拡張も可能です。

CS & HTS

反射法によるコンビナトリアルスクリーニングに完全対応した D8 DISCOVER with GADDS CS は世界中で評価され、その代表例として技術的に最も優れた新製品に贈られる 2001 R&D 100 Award を受賞しました。
そして現在、1台で反射法と透過法の両方に対応したハイスループットスクリーニング対応X線回折装置 D8 DISCOVER with GADDS HTS がリリースされ、さまざまな測定方法に対応したシステムもラインナップするなど、さらなる進化を遂げています。

GADDS HTS 反射法光学系
D8 DISCOVER with GADDS HTS
反射法光学系
GADDS HTS 透過法光学系
D8 DISCOVER with GADDS HTS
透過法光学系
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