PURE Kα1 粉末X線構造解析装置

D8 ADVANCE with Vario1

Vario1
D8 ADVANCE with Vario1
Kα1集中光学系が、粉末法による
高精度構造解析を身近にしました

ヨハンソン型Kα1 集光モノクロメーター Vario1 を入射側に配置することにより、Kα1 のみに単色化された集中光学系による測定が可能となり、粉末X線構造解析などに必要な精密測定を強力にサポートします。

D8 ADVANCE with Vario1 製品特徴

PURE Kα1

Kα1 のみに単色化された回折パターンを測定することができ、Kα1,2 の回折パターンに比べシャープなプロファイルに加え、従来Kα2 に隠れていたピークやバックグラウンドが鮮明になります。

4つの集中光学系

Vario1 は D8 ゴニオメーターのガイドレールに沿って位置をスライドすることにより光路長を変更することができます。 光路長に加えて試料ステージと検出器を総合的に選択することにより、 4つの優れた集中光学系（反射法，高分解能キャピラリー法，高強度キャピラリー法，透過法）を実現。 試料の種類や形状、測定目的に応じて最適な光学系での測定が可能です。

4つの集中光学系
4つの集中光学系

高分解能・高速測定

Vario1 & VANTEC-1
Vario1 & VANTEC-1

X線検出器に1次元高速PSD VANTEC-1 などを適用することにより、測定時間を大幅に短縮できます。また、キャピラリー法の際にラジアル・ソーラースリット等を併用することで、特に低角領域において P/B の良い回折パターンを高速で得ることができます。

粉末X線構造解析

トータルプロファイルフィッティングソフトウェア DIFFRACplus TOPAS との組み合わせにより、粉末法による結晶構造解析の精度・信頼性が飛躍的に向上します。

DIFFRACplus TOPAS
DIFFRACplus TOPAS

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