NPFLEXは、大型サンプルの測定を実現する特徴的なシステム構造をもちあわせています。249x304x304mmにわたる試料搭載スペースと、±45°の傾斜調整を可能にする傾斜調整ヘッド構造により、ハイポイドギヤやプラネタリギア、ヨークなどの様々な自動車部品や、医療インプラント品、非球面光学レンズなどの局所的表面形状測定を可能にします。
NPFLEXに用いられる超長作動距離型対物レンズの応用により、光路を90度折り曲げ側壁部の測定を可能にします。エンジンシリンダーの内側面の測定など、従来では破壊検査を余儀なくされていた試料をそのままの状態で観察・測定する事を可能にしました。粗さ情報にとどまらず、クロスハッチ確度等燃費改善を目的とした開発に重要な情報を瞬時に提供します。
NPFLEXは、基本測定原理として光干渉法を用いています。約30万画素のCCDカメラで取得されたXYZの3次元情報から構成される測定結果は、ポイントやライン情報と比較にならない豊富な情報が含まれています。数秒で測定対象部分の形状をリアル3Dでイメージングし、定量評価を可能にします。
NPFLEXは、全域クローズドループ制御されたZ方向スキャナにより1A〜10mmの驚異的なZ方向測定範囲において安定した計測を提供します。光干渉のもつ特徴により、どのような測定範囲でも変わらず高い測定分解能を提供します。微小領域から広範囲にわたる面粗さやうねりなど特徴ある形状のナノオーダー評価を可能にする最適な計測ツールです。
2012.4.3
Nano Theater(イメージデータ集)サイトがオープン
2011.10
CETRトライボロジー/メカニカル試験装置の販売を開始
2011.10.31
「SPM/AFM新技術セミナー2011」
11月10日、15日に開催!
2011.9.5
AFM/SPM用語集をアップしました。
2011.9.5
アプリケーションページのコンテンツをアップしました。
2011.7.19
ScanAsyst HR新発売
詳しくはこちら
2011.5.23
ブルカー・エイエックスエスナノ事業部・東京事業所
移転のお知らせ
[東京事業所へのアクセス]
2011.5.2
世界最速の高分解能原子間力顕微鏡 Dimension FastScan 新発売
2011.2
非接触3次元光干渉粗さ計 NPFLEX-LA 新発売
2011.2.18
nano tech 2011 第10回 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議で「評価・計測部門におけるnano tech 大賞」を受賞!
2011.1
新機能 PeakForce TUNA 新発売(MultiMode8、Dimension
Iconにオプション搭載可能)
2011.1.12
ナノ表面分析システム
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ブルカー・エイエックスエスは、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。
ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の1つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。
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