Iconは20年以上のSPM開発・製造の経験で蓄積された信頼性の高い技術と最新技術を統合して、お客様のたくさんのご要望に合致した性能を持つSPMです。大型試料対応でありながら、ハードウエア面ではこれまで以上の高分解能と低ドリフトを実現し、測定技術面では、従来成しえなかった新測定モードPeakForce Tappingを搭載しています。その結果下記に示すScanAsyst機能やPeakForce QNM機能も実現しました。操作性、性能、機能、拡張性すべてにおいて他に類をみないトータルソリューションを提供します。
“測定エリアを決めたら、後は勝手に測定してくれるAFMがほしい“という皆様のご要望にお答えした新機能です。従来のようにプローブを替える毎のチューニング作業もまったく不要です。
このScanAsystは、操作性の向上だけではなく、性能面でも従来のAFMより格段の進歩を遂げています。従来のTappingより高分解能で、かつプローブの摩耗も最小限に抑えてくれます。新しい測定モードと進化したSPMコントローラの融合によりこれらの機能・性能を実現しました。
PeakForce Tapping機能により全測定ポイントでフォースカーブを計測できるために、リアルタイムでそれらのフォースカーブから機械特性を計測します。結果、形状のイメージングと全く同時に吸着力やスティフネス、エネルギー散逸等、様々な機械特性の計測を可能にした機能(オプション)です。
Zセンサーノイズが0.35Å以下のクローズドループスキャナーです。従来では成し得なかった性能を実現しました。更に特筆すべきことは、この性能とIconの本体との組み合わせで、サーマルドリフトを2Å/分を実現しています。高分解能測定あるいは再現性を要求する繰り返し測定のニーズに大変重要なスペックです。今後ますます平坦化する試料表面の測定ニーズをIconは十分に満足させることが可能です。
大型試料に対応しながら、高分解能と豊富な機能を搭載可能にしました。例えば、大気中で加熱・冷却(-30℃〜250℃)を可能にしました。従来では大型ステージは対応不可能でした。様々な電気特性測定機能を搭載可能ですが、IconはAFMに使用されているフィードバック用レーザ自体がサンプルを励起して引き起こすアーティファクトの影響を排除できる“ダークリフトモード”も可能にしています。液中測定機能は言うまでもありません。従来は高分解能測定、段差測定、あるいは大型試料測定をカバーするためには、少なくとも2種類以上のSPMが必要でしたが、Iconは1台だけでカバーできます。
様々な新機能やニーズに対応するには、従来のGUIでは不十分です。Iconでは大型30インチの液晶モニターに最もユーザーの皆様が容易に操作いただけるように、新しいGUIを採用しました。常に使用するメニューは固定の場所に常時表示され、ユーザーによって使用条件が異なるパラメーターはユーザーのニーズを満たす内容に限定されたものが表示可能になっています。そして、測定中のデータは見やすいように、画面中央表示されるように設計されています。
2012.4.3
Nano Theater(イメージデータ集)サイトがオープン
2011.10
CETRトライボロジー/メカニカル試験装置の販売を開始
2011.10.31
「SPM/AFM新技術セミナー2011」
11月10日、15日に開催!
2011.9.5
AFM/SPM用語集をアップしました。
2011.9.5
アプリケーションページのコンテンツをアップしました。
2011.7.19
ScanAsyst HR新発売
詳しくはこちら
2011.5.23
ブルカー・エイエックスエスナノ事業部・東京事業所
移転のお知らせ
[東京事業所へのアクセス]
2011.5.2
世界最速の高分解能原子間力顕微鏡 Dimension FastScan 新発売
2011.2
非接触3次元光干渉粗さ計 NPFLEX-LA 新発売
2011.2.18
nano tech 2011 第10回 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議で「評価・計測部門におけるnano tech 大賞」を受賞!
2011.1
新機能 PeakForce TUNA 新発売(MultiMode8、Dimension
Iconにオプション搭載可能)
2011.1.12
ナノ表面分析システム
- Nano Surface Analysis -
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ブルカー・エイエックスエスは、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。
ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の1つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。
167委員会のHPはこちら
http://www.npt167.jp/