Dimension FastScan™ AFMは、分解能やフォースコントロールを損なうことなく、非常に高速なイメージングスピードを達成した初めてのAFMです。測定手順も煩雑にならず、高価な投資も必要としません。発売以来皆様に高く評価いただいているDimension Icon® AFMシステムをベースとし、チップスキャン方式を採用しており、大口径から小さなサイズまでサンプルの大きさに制限されず、大気中、液中ともに測定ができるため、高性能AFMで得られる高分解能イメージが1台のシステムでただちに得られます。サンプル上で測定個所を探すときは125Hz以上の高速で測定可能で、大気中、液中にかかわらず数秒で1イメージが取得できるので、Dimension FastScan™ はAFMユーザーの経験そのものを再定義することになるでしょう。
・従来の数百倍もの高速で動作し、秒単位でイメージを取得することができます。レーザー調整を含む光軸のアライメントが自動化され、スマートエンゲージを含んだ一連の手順がワークフローで表示されます。
・測定を自動化するソフトウェアが搭載されており、高速のScanAsyst™と合わせて使うことで、優れた信頼性と繰り返し精度を実現しました。
“測定エリアを決めたら、後は勝手に測定してくれるAFMがほしい“という皆様のご要望にお答えした新機能です。従来のようにプローブを替える毎のチューニング作業もまったく不要です。
ScanAsyst™は、操作性の向上だけではなく、性能面でも従来のAFMより格段の進歩を遂げています。従来のTappingより高分解能で、かつプローブの摩耗も最小限に抑えてくれます。新しい測定モードと進化したSPMコントローラの融合によりこれらの機能・性能を実現しました。
PeakForce Tapping機能により全測定ポイントでフォースカーブを計測できるために、リアルタイムでそれらのフォースカーブから機械特性を計測します。
結果、形状のイメージングと全く同時に吸着力や弾性率、エネルギー散逸等、様々な機械特性の計測を可能にした機能も装備可能(オプション)です。
・微細なフォースコントロールにより高分解能イメージを取得し、さらにチップのライフタイムを伸ばします。
・低ノイズかつ温度補償つきのセンサーをスキャナに搭載し、サブナノメーターのノイズレベルを実現します。
・クローズドループスキャナ搭載のDimension Icon®とDimension FastScan™のスキャナは、高い正確さを持っています。Z方向のノイズレベルはそれぞれ30pm、40pm以下と超低ノイズを実現しました。
・サブナノメーターから数百nmの高さまで分解能を落とすことなく測定することができます。
Zセンサーノイズが0.35Å以下のクローズドループスキャナーです。従来では成し得なかった性能を実現しました。更に特筆すべきことは、この性能とIcon本体との組み合わせで、サーマルドリフトは2Å/分を実現しています。高分解能測定あるいは再現性を要求する繰り返し測定のニーズに大変重要なスペックです。今後ますます平坦化する試料表面の測定ニーズをIconは十分に満足させることが可能です。
Icon スキャナーを使って超低ノイズで正確さの高い測定を行ったり、FastScanスキャナーを使って高速で測定をしたり、Dimension FastScan™ AFM システムは、他のどんな装置を購入するよりもあなたの研究室の能力を高めます。
2012.4.3
Nano Theater(イメージデータ集)サイトがオープン
2011.10
CETRトライボロジー/メカニカル試験装置の販売を開始
2011.10.31
「SPM/AFM新技術セミナー2011」
11月10日、15日に開催!
2011.9.5
AFM/SPM用語集をアップしました。
2011.9.5
アプリケーションページのコンテンツをアップしました。
2011.7.19
ScanAsyst HR新発売
詳しくはこちら
2011.5.23
ブルカー・エイエックスエスナノ事業部・東京事業所
移転のお知らせ
[東京事業所へのアクセス]
2011.5.2
世界最速の高分解能原子間力顕微鏡 Dimension FastScan 新発売
2011.2
非接触3次元光干渉粗さ計 NPFLEX-LA 新発売
2011.2.18
nano tech 2011 第10回 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議で「評価・計測部門におけるnano tech 大賞」を受賞!
2011.1
新機能 PeakForce TUNA 新発売(MultiMode8、Dimension
Iconにオプション搭載可能)
2011.1.12
ナノ表面分析システム
- Nano Surface Analysis -
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ブルカー・エイエックスエスは、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。
ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の1つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。
167委員会のHPはこちら
http://www.npt167.jp/