nano tech 2011 第10回国際ナノテクノロジー総合展・技術会議で、
「評価・計測部門におけるnano tech 大賞」を受賞！

2011年2月16日〜18日まで東京ビッグサイトで開催されたnano tech 2011 第10回国際ナノテクノロジー総合展・技術会議において、638の会社（或いはグループ）の参加の中から「nano tech大賞　評価・計測部門賞」をブルカー・エイエックスエス社が受賞いたしました。

受賞の理由として、Bruker Nano Inc.,社が開発したAFM（原子間力顕微鏡）のイメージングモードPeakForce QNMが今後のナノスケールの評価方法に大きな貢献をもたらすという点があげられました。PeakForce™ QNM™は、ナノスケールにおける材料の機械特性（固さ、吸着力等）の値をAFMの形状と同時にマッピングすることが可能で、高分解能、高速測定（従来の機能と比較して2,000倍も速い測定）を実現した画期的な機能です。

本年のnano tech 展は第10回目の開催となりますが、日本で初めて開催された第1回目のnano tech 展でも特別賞を受賞いたしました。その当時のナノテクノロジーの中では画期的な、ピコN/mまでの力の制御を可能にした“PicoForce”とナノマニピュレーションをAFMで可能にした“NanoMan”の開発が受賞理由でした。
ナノテクノロジーはこの10年の間に大きな飛躍を遂げていますが、複数のナノテク大賞を受賞していることは、ブルカー・エイエックスエス社がナノテクノロジーにおいて他に類を見ない最新技術の開発に継続して成功していることを裏付けているものだと確信し、今後もマーケットリーダーとして誠実に技術革新に取り組み最先端技術をお客様に提供し続けてまいります。