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製品案内｜nano Products
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X線回折・蛍光X線・X線CT / ナノ表面分析 (AFM/SPM,非接触3次元白色光干渉粗さ計,トライボロジーテスター)
ブルカー・エイエックスエスは、物質材料の研究開発，品質管理のためのX線回折装置・蛍光X線装置、そしてナノ表面分析システム（AFM/SPM,非接触3次元白色光干渉粗さ計,トライボロジーテスター）のリーディングカンパニーです。
ブルカー・エイエックスエスは、お客様の様々なニーズに幅広くお応えします。
2012年4月、BRUKER社はSKYSCAN社を吸収合併いたしました。SKYSCAN社の製品は、これまでと同じく株式会社東陽テクニカが販売及びサポート業務を行います。〉詳細はこちら
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